供應信息
1、儀器一定要有良好的使用環境
等離子體光譜與其它大型精密儀器一樣，光譜儀用途，需要在一定的環境下運行，失去這些條件，不僅儀器的使用效果不好，而且改變儀器的檢測性能，甚至造成損壞，縮短壽命。根據光學儀器的特點，對環境溫度和濕度有一定要求。如果溫度變化太大，光學元件受溫度變化的影響就會產生譜線漂移，造成測定數據不穩定，一般室溫要求維持在20～25攝氏度間的一個固定溫度，溫度變化應小于±1攝氏度。而環境濕度過大，光學元件，特別是光柵容易受潮損壞或性能降低。電子系統，尤其是印刷電路板及高壓電源上的元件容易受潮燒壞。濕度對高頻發生器的影響也十分重要，濕度過大，輕則等離子體不容易點燃，重則高壓電源及高壓電路放毀元件，如功率管隔直陶瓷電容擊穿，輸出電路阻抗匹配、網絡中的可變電容放電等，以至損壞高頻發生器。一般室內濕度應小于百分之70，控制在百分之45～60之間，應有空氣凈化裝置。過去由于基建施工，我們的環境條件很差，甚至儀器室多次被水淹，受潮及室溫變化過大，儀器不是定位困難就是經常發生故障。搬到新的儀器室后條件改善了，儀器運行就正常多了。
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產品信息（EDX8300）
專業針對RoHS檢測設計開發
分析測量ROHS有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br效果甚佳
儀器特點
?采用自主研發的SES，加強實際有效信號，六盤水光譜儀，測量更準確
?六種光路準直過濾系統，根據不同樣品自動切換，測試更準確
?采用新的電制冷硅針半導體探測器，P/B值[峰背比]達到6200，數據分析更準確
?超大樣品放置腔，更方便測試大樣品
?簡潔大方、獨特的外形設計，精湛的工藝，大幅降低輻射，更加安全可靠
?多重高壓保護系統，并附帶溫度監控， 讓儀器工作更穩定
?專業針對ROHS開發的測試軟件，操作界面十分友好
?自動選擇校準曲線，光譜儀價格，多種譜圖數據處理方法，使數據測量更準確
儀器主要技術指標
?樣品腔尺寸：610mm*320 mm *100mm
?采用電制冷硅針半導體探測器，能量分辨率為： 165±5 eV
?高壓電源，上限輸出功率為5W（電壓：5-50kV 電流：50-1000uA）
?X射線管，燈絲電流下限輸出1mA
?儀器工作溫度： 15-30℃
?儀器工作電源：交流 220±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）
?重量：45kg
?測量元素: 從硫至鈾等 75 種元素
?RoHS 指令規定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br) 檢測上限達 1ppm
?測量時間: 100-300s
?自帶六種光路準直過濾系統
?三重安全保護模式
?相互獨立的基體效應校正模型
?專門針對ROHS開發的測試軟件，自動選擇工作校準曲線，界面友好，使用方便
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X射線熒光光譜儀原理圖
X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)儀的原理主要基于：原子受到X射線的作用，其內層電子被激發，形成空穴，原子處于不穩定的激發態。為了回到穩態，原子的外層電子會躍遷回內層，多余的能量以熒光形式釋放出來，被偵測器檢測到，通過此來做分析。通常，可以將X射線熒光光譜分析儀可分為波長色散性和能量色散性。共元素干擾在日常的分析工作中，XRF這種分析方法經常會出現共元素干擾。這種共元素干擾的問題主要起源于X熒光射線偵測器對于X熒光射線的分辨率的限制所致，只要是XRF都會遭遇到相同的問題。共元素干擾主要分為三類：兩相近共元素干擾、加乘波峰、逃離波峰。
（1）兩相近共元素干擾：由于兩元素在能譜圖上的位置相近，以至于偵測器無法分別出兩者之間的差距。如鉛(La10.55Kv)、(Ka10.54Kv)。
（2）加乘波峰：由于某元素的濃度異常高，此時發出大量X熒光射線，而偵測器無法及時處理，將在能譜兩倍的位置上出現一根波峰。如大量的鐵(Ka6.4Kv)，會在能譜12.8Kv處出一根小波峰。造成誤判。但此種情形極為少見。
（3）逃離波峰：由于某元素的濃度異常高，此時發出大量X熒光射線，而偵測器無法及時處理，光譜儀買賣，將在此元素的能譜位置前一個硅Ka的能譜距離多出一根小波峰而造成誤判，但情形極少出現。如錫(Ka25.27K)-硅(Ka1.74Kv)=23.53Kv≈鎘(Ka23.17 Kv)。
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